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生長紋測(cè)試儀GSM50/紋影儀
生長紋測(cè)試儀/紋影儀 GSM 50是一款專業(yè)用于觀察透明固體、氣體、液體中因密度梯度導(dǎo)致的折射率變化的設(shè)備,通過先進(jìn)的紋影法技術(shù),將微小的折射率差異轉(zhuǎn)化為明顯的明暗對(duì)比,實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物密度分布的精確觀測(cè)。2025-03-04 -
CRD-高反射率測(cè)量儀
CRD-高反射率測(cè)量儀是一款專為高精度反射率測(cè)量而設(shè)計(jì)的先進(jìn)儀器。該測(cè)量儀基于光腔衰蕩法(Cavity Ring-Down,CRD)原理,能夠精確測(cè)量各類樣品的反射率,尤其適用于反射率高于99.9%的高反膜等樣品,廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜、精密光學(xué)元件等領(lǐng)域,為科研與工業(yè)生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)支持。2025-02-18 -
PLI-弱吸收測(cè)試儀
PLI弱吸收測(cè)試儀是一款基于熱透鏡效應(yīng),對(duì)激光光學(xué)元件的弱吸收具有高靈敏度的測(cè)試儀,可廣泛應(yīng)用于晶體材料吸收、薄膜吸收和表面缺陷分析。
應(yīng)用光熱透鏡原理,利用一束泵浦激光照射樣品待測(cè)區(qū)域,該區(qū)域由于熱透鏡效應(yīng)從而產(chǎn)生表面形變分布或體內(nèi)折射率梯度分布。同時(shí)采用另一束探測(cè)激光照射在樣品同一區(qū)域,透射過樣品的探測(cè)光光熱信號(hào)包含表面形變或折射率變化的振幅和相位等信息。光熱信號(hào)由光電探測(cè)器收集,通過探測(cè)光中心光強(qiáng)的變化表征,光熱信號(hào)再經(jīng)鎖相放大器轉(zhuǎn)換為可分析處理的電信號(hào),最終計(jì)算得到被測(cè)樣品的吸收值。2025-02-17
CASTECH 品牌介紹
CASTECH主要從事非線性光學(xué)晶體、激光晶體、精密光學(xué)元件和激光器件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售,其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于激光、光通訊等工業(yè)領(lǐng)域